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标题:电路板分析用便携式光学显微镜-使用方便

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2014-6-5 1:12:01 将本页加入收藏

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正文:

电路板分析用便携式光学显微镜-使用方便


    故障分析电测试的最佳途径也是如此。首先进行非破坏性的电测试.收集测试
结果数据,然后再实施其有潜在破坏性的测试.由于DUA可能与正常的器件有所不
同,因此有时很难准确判断哪些电测试可能具有潜在的破坏性。

    以下是器件故障分析电气特性表征的一般方法.假定关于DUA的故障类型仅有很
少或者没有详细资料。如果有一些详细的信息可资利用,便应对下述方法做适当修改.
    故障分析电测试的最一般的方法是以低电压和小电流进行初始测试。当对器件
施加低电压时,电流将被限定在一个很小的值上。随着加上越来越高的电压,便开始
流过明显的电流。功耗应当受到限制并监视电压/电流特性的稳定性。

    带有单独的电板表和电流表的独立电源通常难以满足上述所有要求。然而,如果
采用曲线描绘仪,便可轻易地满足所有这些要求。










出自http://www.newskus.com/北京显微镜百科
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